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簡要描述:高頻LCR數字電橋是*臺符合LXI標準的新一代阻抗測試儀器,其0.1%的基本精度、20Hz~5MHz的頻率范圍可以滿足元件與材料絕大部分低壓參數的測量要求,可廣泛應用于諸如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變容二極管、變壓器等進行諸多電氣性能的分析及低ESR電容器和高Q電感器的測量。
產品型號:SDY2826,SDY2826A
廠商性質:經銷商
更新時間:2017-01-18
訪  問  量:1768高頻LCR數字電橋簡要介紹
■ SDY2826系列元件測試儀是*臺符合LXI標準的新一代阻抗測試儀器,其0.1%的基本精度、20Hz~5MHz的頻率范圍可以滿足元件與材料絕大部分低壓參數的測量要求,可廣泛應用于諸如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變容二極管、變壓器等進行諸多電氣性能的分析及低ESR電容器和高Q電感器的測量。
■ SDY2826系列產品超高速的測試速度使其特別適用于自動供應線的點檢機,壓電器件的頻率響應曲線分析等等。其多種輸出阻抗模式可以適應各個電感變壓器廠家的不同標準需求。
■ SDY2826系列產品以其的性能可以實現商業(yè)標準和軍用標準如IEC和MIL標準的各種測試。
高頻LCR數字電橋廣泛的測量對象
無源元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析。半導體元件:變容二極管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數分析其它元件:印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估介質材料:塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估磁性材料:鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估半導體材料:半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性液晶材料:液晶單元的介電常數、彈性常數等C-V特性
技術參數
測試參數  | C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR  | |
測試頻率  | SDY2826  | 20 Hz~5MHz,10mHz步進  | 
SDY2826A  | 20 Hz~2MHz,10mHz步進  | |
測試信號電  | f≤1MHz  | 10mV~5V,±(10%+10mV)  | 
平  | f>1MHz  | 10mV~1V,±(20%+10mV)  | 
輸出阻抗  | 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω  | |
基本準確度  | 0.1%  | |
  | L  | 0.0001 uH ~ 9.9999kH  | 
  | C  | 0.0001 pF ~ 9.9999F  | 
  | R,X,Z,DCR  | 0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ  | 
顯示范圍  | Y, B, G  | 0.0001 nS ~ 99.999 S  | 
  | D  | 0.0001 ~ 9.9999  | 
  | Q  | 0.0001 ~ 99999  | 
  | θ  | -179.99°~ 179.99°  | 
測量速度  | 快速: 200次/s(f﹥30kHz) ,100次/s(f﹥1kHz) 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s  | |
校準功能  | 開路 / 短路點頻、掃頻清零,負載校準  | |
等效方式  | 串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式  | |
量程方式  | 自動, 保持  | |
顯示方式  | 直讀, Δ, Δ%  | |
觸發(fā)方式  | 內部, 手動, 外部, 總線  | |
內部直流偏  | 電壓模式  | -5V ~ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進  | 
置源  | 電流模式(內阻為50Ω)  | -100mA ~ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進  | 
比較器功能  | 10檔分選及計數功能  | |
顯示器  | 320×240點陣圖形LCD顯示  | |
存儲器  | 可保存20組儀器設定值  | |
  | USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)  | |
  | USB HOST(FAT16 and FAT32 support)  | |
接口  | LAN(LXI class C support)  | |
RS232C  | ||
HANDLER  | ||
GPIB(選件)  | ||